Que informação cada uma destas técnicas fornece na identificação mineral: microscopia óptica (luz polarizada), microscopia eletrônica (SEM/TEM + EDS) e difração de raios‑X?

Microscopia óptica (luz polarizada): propriedades ópticas e texturas (birrefringência, cores de interferência, extinção, clivagem).
Microscopia eletrônica (SEM/TEM + EDS): morfologia de alta resolução, contraste de número atômico (BSE) e composição química semi‑quantitativa em microescala.
Difração de raios‑X (XRD): identificação de fases e estrutura cristalina; confirmação e quantificação de minerais (ex.: Rietveld).

Explicação detalhada:
As técnicas são complementares: a microscopia óptica revela propriedades óticas e relações texturais essenciais para identificação inicial; o SEM/TEM mostra a micro‑morfologia e, via EDS, a composição elementar que ajuda a diferenciar minerais com aparência semelhante; o XRD fornece prova definitiva da estrutura cristalina e permite quantificar fases em amostras pulverizadas.

Exemplo:
Identificar se grãos em uma rocha máfica são olivina ou piroxênio.
- Óptica: olivina apresenta alta birrefringência e ausência de clivagem bem desenvolvida; piroxênios mostram clivagem em ângulos próximos de 90° e extinção inclinada.
- SEM/EDS: olivina terá alta proporção Mg/Si (ex.: maior Mg e Fe), piroxênio pode mostrar presença de Ca ou diferente relação Mg/Fe; imagens BSE destacam diferenças de Z entre fases.
- XRD: padrões confirmam estruturas distintas (ex.: forsterita Mg2SiO4 vs enstatita MgSiO3), assegurando a identificação e permitindo quantificação das proporções das fases na amostra.