Questão FC287934
Acerca da espectroscopia fotoeletrônica de raios-x (XPS), é correto afirmar que
Química
IDECAN · 2012
Acerca da espectroscopia fotoeletrônica de raios-x (XPS), é correto afirmar que
- o espectro de XPS fornece informações sobre a estrutura cristalina do material.
- no espectro de XPS, a intensidade dos fotoelétrons é representada como uma função do seu comprimento de onda.
- o XPS é uma técnica de superfície, analisando normalmente profundidades entre 5 e 30 nm, dependendo da energia cinética dos fotoelétrons.
- as energias de ligação de um mesmo elemento variam conforme o seu estado químico e, em geral, aumentam conforme o número de oxidação e a eletronegatividade dos ligantes.
- os elétrons Auger não aparecem no espectro de XPS.
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Gabarito
Certo
Comentário do professor
XPS é, de fato, uma técnica de superfície: detecta elétrons fotoejetados da amostra cuja probabilidade de escapar sem perda de energia é limitada pelo comprimento de livre percurso inelástico (IMFP). O sinal útil vem, portanto, das camadas mais externas.
Embora o IMFP dependa da energia cinética dos fotoelétrons, a profundidade efetivamente analisada costuma ser da ordem de alguns nanômetros; uma regra prática é que a profundidade de análise corresponde aproximadamente a \(3\lambda\) (três vezes o IMFP), resultando tipicamente em cerca de 5–30 nm para energias e materiais comuns.
Esse caráter superficial torna o XPS muito sensível à composição e estados químicos da interface ar/amostra ou de filmes finos, e explica por que mudanças na energia incidente ou nos níveis fotoejetados alteram a profundidade de informação obtida.
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