No que diz respeito à microscopia eletrônica de varredura, julgue o item a seguir. A detecção de raios X pode ser utilizada para a determinação da composição do material.

Gabarito

Certo

Comentário do professor

A afirmação é CERTO porque a microscopia eletrônica de varredura pode ser acoplada a detectores de raios X (sistemas EDS/EDX) para análise elementar.

Quando o feixe de elétrons primário atinge a amostra ocorre ionização de camadas internas dos átomos; ao recompor-se, elétrons de níveis superiores emitem raios X característicos cuja energia é típica de cada elemento. A energia do fóton segue \(E=h\nu\).

Ao registrar o espectro desses raios X, identifica‑se os elementos presentes pelos picos de energia e estima‑se a composição relativa a partir das intensidades dos picos. Trata‑se de técnica qualitativa e semi‑quantitativa, com limitações para elementos muito leves e detecção de baixos teores.

Portanto, a detecção de raios X no SEM permite determinar a composição química do material, justificando o julgamento CERTO.